宽量程30μV-1200V,1pA-100A半导体参数分析仪
发布时间：2026-02-25 00:00
浏览：324 次
区域：武汉
类别：电气网
面议
信息编号：NO.00097077
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宽量程30μV-1200V,1pA-100A半导体参数分析仪特点：
30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力；
测量精度高,全量程下可达0.03%精度；
内置标准器件测试程序，直接调用测试简便；
自动实时参数提取，数据绘图、分析函数；
在CV和IV测量之间快速切换而无需重
30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力；
测量精度高,全量程下可达0.03%精度；
内置标准器件测试程序，直接调用测试简便；
自动实时参数提取，数据绘图、分析函数；
在CV和IV测量之间快速切换而无需重
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